Silicon Optik- Si ATR Prisma
Produit Parameter
D'Benotzung vum Laser Absorptiounsspektrum vum ATR Prisma ass eng séier Entwécklungstechnologie vum Infraroutspektrum, an et ass och am meeschte verbreet Probentechniken am Moment.Et kann qualitativ oder quantitativ getest ginn, awer erfuerdert minimal oder guer keng Probevirbereedung. Dëst kann d'Tester staark beschleunegen an d'Effizienz verbesseren, vun der Multiple Reflexioun ATR op déi eenzeg Reflexioun ATR, vun der normaler Temperaturmiessung bis d'Messung vun der Temperaturabhängegkeet (maximal) Temperatur bis 300 Grad Celsius), vun Atmosphärendrocktechnologie bis Héichdrock superkritesch Technologie. | ||||||||
Technesch Ufuerderung | Commercial Grad | Präzisioun Grad | Héich Präzisioun | |||||
Gréisst Gamme | 1-600 mm | 2-600 mm | 2-600 mm | |||||
Dimensiounstoleranz | Duerchmiesser 0,1 mm | Duerchmiesser 0,025 mm | Duerchmiesser 0,01 mm | |||||
Wénkel Toleranz | ± 3' | ± 30'' | ± 5'' | |||||
Uewerfläch Qualitéit | 60-40 | 40-20 | 20-10 | |||||
Uewerfläch Genauegkeet | 1,0λ | λ/10 | λ/20 | |||||
Beschichtung | 3-5μm T >97% | |||||||
Bevelling | 0,1-0,5 mm * 45 ° | |||||||
Substrat | Optesch Grad Silizium | |||||||
Längt (mm) | Breet (mm) | Dicke (mm) | Wénkel | Bemierkung | ||||
42 | 14 | 2 | 45 | |||||
50 | 20 | 2 | 45 | |||||
52 | 20 | 2 | 45 | |||||
52 | 20 | 2 | 45 | |||||
60 | 12 | 4 | 45 | |||||
68 | 10 | 6 | 45 |